- Authors
- Torsten Niekisch
- title
- Störungssystematikbestimmte Instandhaltung in einem Wafertransportsystem
- Please use the following URL when quoting:
- https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:swb:14-1008196556562-32167
- Translated title (ENG)
- Trouble Systematic Based Maintenance in a wafer transport system
- Date of submission
- 02.04.2001
- Date of defense
- 16.11.2001
- Abstract (DE)
- Störungssystematikbestimmte Instandhaltung (SSBIH) in einem Wafertransportsystem In der vorliegenden Arbeit wird eine Instandhaltungsmethode beschrieben, mit welcher es im Wafertransportsystem von Infineon Dresden gelungen ist, die Anzahl sogenannter Traktionsprobleme innerhalb kürzester Zeit und mit minimalem Aufwand zu halbieren. Neben der Beschreibung der Umsetzung der Methode, wird vertiefend auf die theoretischen Grundlagen und die Voraussetzungen für die Anwendbarkeit eingegangen. Des weiteren wird anhand der Besonderheiten komplexer Logistiksyteme in der Halbleiterfertigung erläutert, weshalb diese zustandsbestimmte Instandhaltungsstrategie bisher nicht zum allgemeinen Stand der Technik gehörte. Es werden Beispiele für eine Übertragbarkeit angeführt. Eine solche ist insbesondere dann gegeben, wenn das Störungsverhalten auf Toleranzsystemen basiert, in welchen vollständige Austauschbarkeit nicht nur gefordert, sondern ein Großteil der möglichen Elementepaarungen auch tatsächlich getestet wird. Im hier beschriebenen Fall fanden pro Tag ca. 750 000 Ereignisse zwischen ca. 4500 Conveyorelementen und mehr als 10 000 Transportcarriern statt. (Anlagen: Carriertraktionsprobleme, Microsoft-Access-DB, 29,4 MB ; Conveyorstörungen, Microsoft-Access-DB, 22,9 MB ; Stockerstörungen, Microsoft-Access-DB, 22,6 MB ; Verteilungsfunktion, Microsoft-Access-DB, 514 KB ; Störungsentwicklung, Microsoft Excel-Tabelle, 2,03 MB -- Nutzung: Referat Informationsvermittlung der SLUB)
- Keywords (DE)
- Austauschbau, Gauß, Halbleiter, Instandhaltung, Meßtechnik, Störung, Systematik, Toleranzsystem, Transportsystem, Verteilungsfunktion
- Keywords (EN)
- TSBM, conveyor, maintenance, semiconductor, stocker, systematic, trouble
- Classification (DDC)
- 36
- Classification (RVK)
- ZG 9270
- Standardizd keywords (GND)
- Fördermittel, Instandhaltung, Qualitätssicherung, Reinraumtechnik, Störung, Toleranzanalyse, Transportsystem, Wafer, Wahrscheinlichkeitsverteilung
- Examiner
- Prof. Dr.-Ing. habil. Hartmut Weise
- Prof. Dr.-Ing. Arthur Deutschländer
- Prof. Dr. rer. nat. habil. Karl-Heinz Modler
- Prof. Dr.- Ing. habil. Wilfried Sauer
- Supervisor
- Prof. Dr.-Ing. habil. Hartmut Weise
- Awarding institution
- Technische Universität Dresden, Dresden
- URN Qucosa
- urn:nbn:de:swb:14-1008196556562-32167
- Qucosa date of publication
- 13.11.2001
- Document type
- doctoral_thesis
- Document language
- German
- licence